致新ZX38A-CV半導體C-V特性測試儀產(chǎn)品簡介

ZX38A-CV半導體C-V特性測試儀：使用自動平衡電橋技術(shù)及四端對開爾文測試端、測量頻率范圍涵蓋20Hz~2MHz，最小分辨率1mHz，基本測量精度可達0.05%。

主要用于測試半導體器件PN結(jié)的勢壘電容在不同偏壓(V)下的電容量(C)。ZX38A-CV半導體C-V特性測試儀除了可以連接電腦上位機軟件掃描分析功能外，還提供在儀器大屏液晶顯示器上直接顯示C-V掃描曲線分析功能。這樣客戶不再需要為每臺儀器配置一臺電腦。這種方式既保證了測試效率，又降低了測試成本、還方便客戶在生產(chǎn)線上使用。還可以把儀器屏幕上顯示圖形和測試數(shù)據(jù)直接拷貝到U盤。

本儀器還可以測試MOS管的輸入電容Ciss，輸入電阻Rg等參數(shù)。同時提供了內(nèi)置±10VDC電壓源方便客戶測試3端管子。

致新ZX38A-CV半導體C-V特性測試儀性能特點：

自動平衡電橋技術(shù)

ZX38A使用的自動平衡電橋測試原理，把以往簡易的測量運放改進成：Lpot檢零電路，0度90度數(shù)字檢相及調(diào)制解調(diào)電路，Lcur高頻驅(qū)動電路等等組成的矢量負反饋網(wǎng)絡(luò)。從而保證了測量電路的虛地端更接近理想。自動平衡電橋技術(shù)能夠更好的抵消疊加偏壓對電容測量造成的誤差。

主要測量頁面

配備多種接口